| Montag 11. Sept. |  |  | 
        
          | 11:30 |  | Begrüßung und gegenseitige Vorstellung der Teilnehmer | 
        
          | 12:00 | E. Steers | London Metropolitan University: EU-Antrag TAN GLADNET | 
         
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          | 12:30 | S. Weiss | recent Matrix effects in ionic emission lines of the elements ionized by charge transfer reactions with the working gas | 
        
          | 12:50 | Th. Nelis | Erste Erfahrungen mit der gepulsten rf-GD-TOFMS an der EMPA | 
        
          | 13:10 | D. Fliegel | Gepulste Glimmentladung als Ionenquelle für ein Flugzeitmassenspektrometer, Kenndaten und mögliche Anwendung | 
        
          |  | Pause |  | 
        
          | 15:00 | Th. Hofmann | GDMS VG 9000 und ELEMENT GD - ein starkes Team | 
        
          | 15:30 | B. Lange | Herausforderung Kalibration | 
        
          | 16:00 | J. Hinrichs | Analysis of high purity metals with the ELEMENT GD | 
        
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          | Dienstag, 12. Sept. |  |  | 
        
          | 09:00 | D. Klemm | Wasserstoffbestimmung mit der GDOES - aktueller Stand der Arbeiten am IFW Dresden | 
        
          | 09:30 | M. Analytis | Neuentwicklungen in der GDOES-Spektroskopie | 
        
          | 10:00 | W. Verscharen | Unbekannte Linien in OES Spektren (Diskussionsbeitrag) | 
       
          | 10:30 | M. Köster | Fortschritte bei der Anwendung von wasserstoffhaltiger Gasgemische zur Tiefenprofilanalyse dünnster und dickster Schichten | 
        
          | 11:00 |  | Abschlussdiskussion, nächstes Arbeitstreffen, weitere Aktivitäten in Arbeitskreisen, Meeting EW-GDS, weitere Projektanträge unter FP7 | 
        
          | 13:30 |  | Besichtigung der Labors der AQura GmbH, Anorganische Analytik, GDMS, Oberflächenanalyse und Mikroskopie, Physikalische Messungen, Röntgenbeugung, Röntgenfluoreszenz | 
        
          | Poster | T. Gusarova | Improvement of Signal Sensitivity using Hollow Cathode Effect in Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy | 
        
          | Poster | D. Klemm | Improvements for thin film analysis by GD-OES |